Das Kupfer, das als Leiterbahn in den meisten elektronischen Schaltungen verwendet wird, kann durch Überlastströme während seiner Einsatzzeit Fehlstellen und Risse erleiden. Es wird die Hypothese verfolgt, dass sich das Kupfer durch diese Belastung lokal erwärmt, bis es unter Umständen aufschmilzt. Das Aufschmelzen und Erstarren des Materials führt folglich zu Fehlstellen im Kupfer. Eine gezielte elektrische Belastung soll es ermöglichen diesen Degradationsprozess des Materials zu analysieren.

Als einfaches Modell wird eine Kupferleiterbahn verwendet. Es wird untersucht, ob die gewählte Belastung ausreichend ist, um die Leiterbahn zum Schmelzen zu bringen.