INVITED
Andreas Furchner [ We_A_I2, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"QUANTIFYING MOLECULAR INTERACTIONS WITH IR ELLIPSOMETRY"
Rüdiger Goldhahn [ Mo_A_I2, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"ELLIPSOMETRY OF TRANSPARENT CONDUCTING OXIDES FROM MIDINFRARED INTO VACUUM ULTRAVIOLET"
Bruno Gompf [ Tu_M_I1, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"THE DEPOLARIZATION IN GRANULAR MEDIA: A MUELLER MATRIX APPROACH"
Kurt Hingerl [ Mo_M_I1, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"DECOHERENCE AND DEPOLARISATION AND THE INFLUENCE OF INNER BOUNDARIES OF METAMATERIALS ONTO DEPOLARISATION"
Tino Hofmann [ We_M_I1, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"ELLIPSOMETRY AT THZFREQUENCIES: NEW APPROACHES FOR METROLOGY AND METAMATERIAL-BASED SENSING"
Zsuzsanna Pápa [ Mo_M_I2, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"ELLIPSOMETRY OF THIN PEPTIDE FILMS"
Steffen Richter [ We_M_I2, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"FS-TIME-RESOLVED SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY"
Georgeta Salvan [ Mo_A_I1, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"MAGNETO-OPTICAL KERR EFFECT SPECTROSCOPY OF MAGNETIC OXIDES AND ORGANIC/OXIDE HETEROSTRUCTURES"
Timur Shaykhutdinov [ Tu_M_I2, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"ANISOTROPY IN AGGREGATES AND THIN FILMS BY IR NANOPOLARIMETRY"
Stefan Zollner [ We_A_I1, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"INFLUENCE OF TEMPERATURE, STRAIN, ALLOY COMPOSITION, DOPING, AND FILM THICKNESS ON THE DIELECTRIC FUNCTION OF SEMICONDUCTORS"
SHORT TALKS
Isabel Alonso [ We_A_O2, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY STUDY OF HYBRID PEROVSKITE SOLID SOLUTION FAXMA1?XPBI3 SINGLE CRYSTALS"
Elias Baron [ Mo_A_O3, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"PLASMONIC PROPERTIES OF DEGENERATELY GE-DOPED CUBIC GAN"
Peter Basa [ We_M_O3, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"CHARACTERIZATION OF DIELECTRIC FILMS ON GLASS FOR THE SEMICONDUCTOR 3D PACKAGING PROCESS"
Uwe Beck [ Tu_M_O8, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"ELLIPSOMETRIC IMAGING OF LOW-CONTRAST SURFACE MODIFICATIONS AND DEPOLARIZATION CONTRAST IMAGING (DCI) OF PARTICULATE ACCUMULATIONS"
Eva Bittrich [ Mo_M_O6, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"ZWITTERIONIC POLYMER SURFACES BASED ON PHOSPHORYLCHOLINE: SWELLING AND BIOMOLECULE INTERACTION"
Adrian Blümich [ We_M_O7, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"ELLIPSOMETRY IN THE ERA OF INDUSTRY 4.0"
Judit Budai [ We_M_O5, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"ULTRAFAST IN-SITU ELLIPSOMETRY FOR STUDYING INTERACTIONS OF LASER PULSES AND MATERIAL SURFACES"
Maurizio Canepa [ Mo_M_O3, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY CHARACTERIZATION OF HYBRIDIZATION OF DNA ON GOLD SURFACES"
Matthias Duwe [ Tu_M_O5, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"IMAGING MUELLER-MATRIX ELLIPSOMETRY OF ANISOTROPIC THIN-FILM SEMICONDUCTORS"
Shirly Espinoza [ Mo_A_O1, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"VUV MAGNETO-OPTICAL TRANSIENT ELLIPSOMETER: ELIPS"
Miklos Fried [ We_M_O2, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"HIGH SPEED SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY TECHNIQUE FOR ON-LINE MONITORING IN LARGE AREA THIN LAYER PRODUCTION"
Sebastian Funke [ Tu_M_O6, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"ELLIPSOMETRIC MICROMAPPING OF GRAPHENE GROWN ON COPPER-FOIL"
Martin Hammerschmidt [ Tu_M_O1, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"QUANTIFYING UNCERTAINTIES OF RECONSTRUCTED PARAMETERS IN OPTICAL SCATTEROMETRY OF NANOSTRUCTURED SURFACES"
Andreas Hertwig [ Mo_M_O4, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"DETERMINATION OF THE GLASS TRANSITION REGION OF PVME BY MEANS OF SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY"
Alexander Horn [ We_M_O6, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"ULTRAFAST ELLIPSOMETRY OF LASER-INDUCED PHASE TRANSITIONS IN MATTER"
Lars Jansen [ We_M_O4, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"HIGH-SPEED SPRECTROSCOPIC ELIIPSOMETRY AND ITS APPLICATIONS"
Søren A. Jensen [ Tu_M_O3, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"ROUGH CIGS SURFACE ANALYZED WITH RAYLEIGH-RICE THEORY"
Evgeny Krüger [ Mo_A_O4, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"TEMPERATURE DEPENDENT DIELECTRIC FUCTION OF CUI THIN FILMS"
Philipp Kühne [ We_A_O3, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"STEALTH TECHNOLOGY-BASED TERAHERTZ FREQUENCY-DOMAIN ELLIPSOMETRY INSTRUMENTATION"
Dmitriy V. Likhachev [ We_M_O8, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"USE OF P-SPLINES FOR THE DIELECTRIC FUNCTION REPRESENTATION IN THE INTERPRETATION OF SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY DATA"
Michele Magnozzi [ Tu_M_O7, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"FAST DETECTION OF WATER NANOPOCKETS UNDERNEATH WET-TRANSFERRED GRAPHENE"
Alyssa Mock [ Mo_A_O8, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"OPTICAL AND ELECTRONIC PROPERTIES OF LOW-SYMMETRY MATERIALS"
Wojciech Ogieglo [ Mo_M_O2, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"ULTRA-THIN POLYMERS OF INTRINSIC MICROPOROSITY IN FLUIDS"
Rolf Reineke-Koch [ Mo_A_O5, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"MAGNETRON SPUTTERED TIOX LAYERS: STRUCTURAL, ELECTRICAL, OPTICAL AND THERMOCHROMIC ASPECTS"
Felix Rösicke [ Mo_M_05, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"GRAPHENE FUNCTIONALIZED BY ULTRA-THIN ANCHOR LAYERS TOWARDS BIOSENSOR APPLICATION"
René Sachse [ Tu_M_O4, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY FOR THE DETERMINATION OF THICKNESS AND POROSITY OF MESOPOROUS METAL OXIDE FILMS"
Apoorva Sharma [ Mo_A_O2, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"MAGNETO-OPTICAL SPECTROSCOPY AND SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY OF CO60FE20B20 THIN FILMS"
Wanfu Shen [ Tu_M_O2, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"AZIMUTHAL DEPENDENCE OPTICAL ANISOTROPY AT THE EDGES OF MICROSTRUCTURE"
Lukasz Skowronski [ We_M_O1, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"ELLIPSOMETRIC STUDY OF THE TIO2-BASED DECORATIVE COATINGS PRODUCED USING MAGNETRON SPUTTERING TECHNIQUE AT INDUSTRIAL CONDITIONS"
Mihai Stoica [ We_A_O1, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"ELLIPSOMETRIC STUDY ON TIO2 / ZNO BILAYER LAMINATE FILMS FOR PIEZOELECTRIC APPLICATIONS"
Chris Sturm [ Mo_A_O6, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"DIELECTRIC FUNCTION OF E-(IN,GA)2O3 THIN FILMS"
Cordula Walder [ Mo_M_O1, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"INFRARED SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY OF SIO2 TRAPEZOIDS AND BIOHYBRID SIO2/PROTEIN INTERFACES"
Vitaly Zviagin [ Mo_A_O7, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ]
"SPECTROSCOPIC INVESTIGATION OF CATION CONFIGURATION STATE OF SPINEL FERRITE THIN FILMS"
POSTER
[ P01, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Theo Pflug
"CASE STUDY ON THE DYNAMICS OF ULTRAFAST LASER HEATING AND ABLATION OF GOLD THIN FILMS BY ULTRAFAST PUMP-PROBE ELLIPSOMETRY"
[ P02, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Markus Olbrich
"COMPARISON OF DIFFERENT MODELS DESCRIBING THE TEMPERATURE DEPENDENT DIELECTRIC FUNCTION: VALIDATION OF MODELS WITH TIME-RESOLVED PUMP-PROBE REFLECTOMETRY AND ELLIPSOMETRY"
[ P03, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Oliver Herrfurth
"PITFALLS OF TIME-RESOLVED SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY"
[ P04, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Andreas Hertwig
"CALIBRATION SAMPLES AND THE GUM-COMPLIANT DETERMINATION OF UNCERTAINTIES IN ELLIPSOMETRY – A STANDARDIZATION INITIATIVE"
[ P05, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Eugene Bortchagovsky
"THE CHOICE OF OPTIMAL CONDITIONS OF ELLIPSOMETRIC MEASUREMENTS FOR ACCURATE DETERMINATION OF PARAMETERS OF INVESTIGATED SYSTEMS."
[ P06, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Krzysztof Dorywalski
"HYBRID GA-GRADIENT METHOD FOR THIN FILMS ELLIPSOMETRIC DATA EVALUATION"
[ P07, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Tobias Grunewald
"A NEW MERIT FUNCTION FOR MUELLER MATRIX ELLIPSOMETRY AND ITS APPLICATION ON SUBWAVELENGTH GRATINGS"
[ P08, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Andreas Furchner
"INFRARED MüLLER MATRIX ELLIPSOMETRY OF THIN FILMS AND STRUCTURED SURFACES"
[ P09, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Martin Čermák
"USE OF THE EXACT APPROACH OF THE RAYLEIGH–RICE THEORY FOR CALCULATING ELLIPSOMETRIC PARAMETERS AND REFLECTANCE OF MULTILAYER SYSTEMS WITH RANDOMLY ROUGH BOUNDARIES"
[ P10, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Kamil Postava
"MODELING OF ELLIPSOMETRIC RESPONSE FROM PERIODIC STRUCTURE INCLUDING INCOHERENT PROPAGATION IN THICK LAYERS"
[ P11, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Judit Budai
"ELLIPSOMETRIC ANALYSIS OF ALIGNED CARBON NANOTUBES"
[ P12, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Michele Magnozzi
"SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY ANALYSIS OF SELF-ASSEMBLED AU/PNIPAM CORE-SHELL NANOPARTICLES"
[ P13, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Francesco Bisio
"TEMPERATURE-DEPENDENT OPTICAL PROPERTIES OF PLASMONIC NANOSYSTEMS"
[ P14, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Sandhya Chandola
"OPTICAL CHARACTERISATION OF ELECTRONIC CONFINEMENT IN THIN METALLIC FILMS GROWN ON 1-D NANOSTRUCTURES"
[ P15, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Sebastian Funke
"IMAGING ELLIPSOMETRY AS A TOOL FOR THE CHARACTERIZATION OF 2D-MATERIALS ON VARIOUS SUBSTRATES"
[ P16, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Constance Schmidt
"IMAGING ELLIPSOMETRY WITH CON-LOCAL RAMAN SPECTROSCOPY ON 2D TRANSITION METAL DICHALCOGENIDES WITH DIFFERENT LAYER THICKNESSES"
[ P17, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Shun Okano
"THE INFLUENCE OF FIELD EFFECT DOPING ON THE OPTICAL PROPERTIES OF BILAYER GRAPHENE"
[ P18, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Premysl Marsik
"PHONON ANOMALIES IN STRAINED SRMNO3 FILMS"
[ P19, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Chris Sturm
"DIELECTRIC FUNCTION AND SINGULAR OPTIC AXES OF KTP"
[ P20, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Ievgen Voloshenko
"MUELLER MATRIX ELLIPSOMETRY INVESTIGATIONS OF INSULATOR METAL TRANSITION IN VO2"
[ P21, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Farzin Abadizaman
"MUELLER MATRIX ANOMALY NEAR THE CURIE TEMPERATURE OF NI"
[ P22, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Dmitriy V. Likhachev
"DIFFERENT PARAMETERIZATION OF THE TIN OPTICAL PROPERTIES FOR SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY–X-RAY REFLECTOMETRY COMPARISON"
[ P23, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Tomasz Rerek
"THE INFLUENCE OF DEPOSITION RATE ON MICROSTRUCTURE AND OPTICAL PROPERTIES OF THE SN THIN LAYERS"
[ P24, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Saulius Tumėnas
"TEMPERATURE DEPENDENCE OF ZINC R101 ENERGY GAP"
[ P25, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Jiri Vohánka
"OPTICAL CHARACTERIZATION OF NON-STOICHIOMETRIC SILICON NITRIDE FILMS PREPARED BY MAGNETRON SPUTTERING"
[ P26, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Daniel Franta
"OPTICAL CHARACTERIZATION OF HYDROGENATED AMORPHOUS SILICON-CARBON FILMS IN A WIDE SPECTRAL RANGE"
[ P27, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Lukasz Skowronski
"DIELECTRIC FUNCTIONS OF TITANIUM IN THE REGIME OF THE LIMITED LIGHT PENETRATION"
[ P28, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Oldrich Zmeskal
"THE INFLUENCE OF BALL-MILLING ON THE OPTICAL PROPERTIES OF PRINTED TITANIA PATTERNS REINFORCED BY ORGANOSILOXANE BINDER"
[ P29, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Lukasz Skowronski
"THE OPTICAL TIO2 LAYERS DEPOSITED ON POLYMER SUBSTRATES"
[ P30, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Lukasz Skowronski
"OPTICAL AND MICROSTRUCTURAL CHARACTERIZATION OF THICK TIO2 LAYERS PRODUCED USING MAGNETRON SPUTTERING TECHNIQUE"
[ P31, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Przemyslaw Sedzicki
"EFFECTS OF PHOSPHOROUS IONS IMPLANTATION IN BULK CDTE CRYSTAL"
[ P32, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Przemyslaw Sedzicki
"OPTICAL PROPERTIES OF COBALT/CHROMIUM DOPED BULK ZNSE"
[ P33, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Sven Peters
"SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY FOR THE ANALYSIS OF ANISOTROPIC WIDE BAND GAP SEMICONDUCTORS"
[ P34, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Florian Bärwolf
"SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY, SIMS AND X-RAY DIFFRACTOMETRY AND REFLECTOMETRY FOR GE-GRADED SIGE HBT CONTROL"
[ P35, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Nerijus Armakavicius
"ELECTRON EFFECTIVE MASS IN IN0.33GA0.67N DETERMINED BY INFRARED OPTICAL HALL EFFECT"
[ P36, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Attila Sütő
"IMAGING SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETER FOR OLED APPLICATION"
[ P37, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Peter H. Thiesen
"OPTICAL CHARACTERIZATION OF ANISOTROPIC THIOPHENE-PHENYLENE CO-OLIGOMER MICRO CRYSTALS BY SPECTROSCOPIC IMAGING ELLIPSOMETRY."
[ P38, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Eva Bittrich
"THE GLASS TRANSITION IN POLYIMIDE FILMS USED FOR MICROELECTRONIC PACKAGING"
[ P39, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Maurizio Canepa
"OPTICAL PROPERTIES OF AMORPHOUS SIO2-TIO2 MULTI-NANOLAYERED COATINGS FOR 1064-NM MIRROR TECHNOLOGY"
[ P40, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Peter Basa
"STABLE AND REPRODUCIBLE POROUS COATINGS FOR SMART WINDOW APPLICATIONS"
[ P41, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Peter H. Thiesen
"CHARACTERIZATION OF THIN FILMS AT DISADVANTAGEOUS INTERFACES BY IMAGING ELLIPSOMETRY"
[ P42, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Peter H. Thiesen
"IMAGING ELLIPSOMETRY AT THE AIR/WATER INTERFACE"
[ P43, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Benjamin Kalas
"DETECTION AND CONTROL OF SURFACE NANOSTRUCTURES AT WATER LIQUID INTERFACE FOR SENSING"
[ P44, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Karsten Hinrichs
"OPTOFLUIDIK PLATFORM FOR ENHANCED IR MICROSCOPIC SENSING"
[ P45, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Christian Hoffmann
"CHARACTERIZATION OF EXTRUDED COLLAGEN FIBRES WITH IMAGING ELLIPSOMETRY"
[ P46, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster ] Elisabeth Preuße
"SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY OF ADSORBED PROTEINS ON BIOCERAMIC IMPLANT MATERIAL"
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