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Institut für Metallische Konstruktionswerkstoffe
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Rasterelektronenmikroskop

Tescan Vega 1 (inkl. EDX)
 

Für die Betrachtung von Schliffen und Burchflächen

  • Sekundärelektronen- und Rückstreuelektronendetektor 
  • Auflösungsvermögen: ca. 5 nm

Für die Charatkisierung der Materialzusammensetzung:

  • Oxford Insturments x-act EDX-Detektor (10 mm²)
  • Auflösung 125 eV
Tescan Vega 1