Ellipsometrie und Polarimetrie werden zur optischen Charakterisierung von Materialtypen wie Halbleitern, Dielektrika, Metallen, organischen Polymeren und Kunststoffen in dünnen Schichten, dünnen Schichtstapeln und in Nanostrukturen eingesetzt. Beide Techniken kontaktieren und beschädigen keine Proben, sind eine ideale und präzise Messtechnik zur Bestimmung der optischen und damit physikalischen und chemischen Eigenschaften von Materialien im Nanobereich. Es wird am häufigsten verwendet, um die Filmdicke und die optischen Eigenschaften genau zu messen. Es gibt jedoch viele andere Materialeigenschaften, von denen kürzlich gezeigt wurde, dass sie aufgrund ihres Einflusses auf die optische Reaktion des Materials ellipsometrisch oder polarimetrisch untersucht werden können. Daher wird die heutige Ellipsometrie in einem sich ständig erweiternden Anwendungsgebiet wegen der zunehmenden Miniaturisierung von integrierten Schaltkreisen, des Wissens über biologische Makromoleküle aus der DNA - und Proteinoberflächenforschung, des Materialdesigns von Dünnschichtmultischichten, von Nanoverbundwerkstoffen und intelligenten Materialien und Werkstofftechnik im Nanobereich. Moderne Anwendungen decken die breitesten Spektralbereiche von der Teraherz-Domäne bis zu ultrakurzen Wellenlängen ab. Dabei werden gebundene und ungebundene Ladungsanregungen in komplexen Strukturen behandelt, die kritische Eigenschaften neuer Materialien offenbaren und komplizierte Schichtstrukturen in Echtzeit steuern. In dieser Koordinations- und Unterstützungsmaßnahme ist ZONA der Arbeitspaketführer für die Verbreitung und organisiert Winter- und Sommerschulen sowie Workshops, um Studenten, Forscher, Wissenschaftler und auch Mitarbeiter von Unternehmen in Theorie, experimentellen Details und Anwendungen der Ellipsometrie und Polarimitationstechniken zu unterrichten und auszubilden für materialwissenschaftliche Aufgaben. Weitere Informationen zum EU-Projekt und den anderen Partnern und Aufgaben finden Sie unter: www.nanocharm.org